| 是否进口：是 | 原产国/地区：韩国 | 加工定制：否 |
| 品牌：NANOIONICS KOREA | 型号：MRA-1600 / MRA-1600H | 类型：热老化箱 |
MLCC信赖性测试系统
[ HALT / 8585 ]
1. 系统概述
□ 系统控制柜：
□ 技术规格：
1）供电4组
*MAX施加电压 : 350 V (1000 V 版本可选)
2）MAX电流 = 截止电流电平
3）在施加 300 V 电压的情况下
4）周期测量间隔 : *少8分钟 (1分钟增量调节)
2. 系统特点及优势
□ MLCC信赖性评价ZUI优化的系统
1. 采用HALT/8585专YONG高精DU继电器B/D，测量精度显ZHU提高
- 使用精M***标准电阻的漏电流测量电路
- 与电流测量方式相比,没有电流的路径变化或瞬间短路,可以进行稳定的测量
2. 尽量减少循环测量时间
- 尽量减少各通道的漏电流测量时间
- 通过缩短测量间隔来提高各元器件的失效时间(TTF)精度
3. 超过允许电流值时立即切断该通道电压
- 阻断瞬时电流增加对其它元器件测量的影响
- 稳定保持对全部元件的施加电压进而提高测量准确度
4. 通过持续监测测量条件来提高数据的可靠性
- 安装温度传感器以确认基板周围的温度变化和分布
- 实时监控电源输出电压,监控测量状态的变化
□ 增强用户便利性
1. 测量基板实装状态的自动检测功能
- 测量开始前，预先检查测量板的晶片实装状态
- 提前筛选实装不良、未实装、元器件不良状态，并反映在数据统计处理中
2. 直观体现测量进行状态和结果的屏幕画面
- 通过4种颜色体现和区分各频道的测量状态与判定结果
- 通过各组标签查看测量状态及测量数据的详细信息
- 通过实时图表直观查看测量结果
- 各基板测量结果图表的保存功能
3. 失效时间(TTF)数据实时统计处理
- 对失效元器件的失效时间(TTF)数据进行实时自动统计处理
- 显示经过统计处理的失效时间(TTF)的实时图表
4. 通过日常检查/校准功能实现稳定的系统维护管理
- 提供系统校准所需的标准基板
- 检查电压是否正常施加到每个元器件上
- 检查测量系统运行状态是否存在异常
3. 系统操作
□ 测量方式
漏电流测量法
- 标准电阻方式 : 利用标准电阻的电量进行测量。
- 在测量过程中向所有通道不间断地施加电压。
□ 测量结果直观体现
4. 可靠性
